用四探针法测量金属薄膜电阻率时可能产生误差的根源

用四探针法测量金属薄膜电阻率时可能产生误差的根源 谁知道测量电阻率的“四探针法”英文怎么说? 四探针法测量半导体电阻率和薄层电阻的问题?为什麽要用四探针进行测量,如果只用两根探针既作电流探针又作电压探针,是否能够对样品进行较为准确的测量? 金属薄膜电阻率测量实验为什么要求测量同一电流状况下正反电压金属薄膜电阻率测量实验为什么要求测量同一电流状况下正反向电压再去平均值,不这样做会产生什么误差 可以采用四探针法测试出薄膜的电阻率,然后根据电阻率计算电导率吗?可以采用四探针法测试出薄膜的电阻率,然后根据电阻率计算电导率,这样得到的电导率为质子电导率.这种方法可以吗? 直流四探针法测量半导体的电阻率的原理是什么?有什么需要注意的嘛? 电池片的电阻率用四探针怎么测 四探针法中,方块电阻就是表面电阻率吗?可以采用这种四探针法直接测试薄膜的表面电阻率吗?如果可以,是直接读出的那个数值吗?还是有其他的计算公式呢?公式是什么? 怎么测量半导体薄膜的电阻率 四探针可以测铝之类的金属的电阻率吗?是不是铝是导体,不能测呢? 硅单晶电阻率测定方法如何提高测试的精确度?为什么需要对厚度进行修正?（四探针法） 为什么金属薄膜厚度越厚金属薄膜电阻率越小 金属电阻率设计测量方案急要啊 银的自由电子的平均自由程是多少?金属薄膜电阻率的测量,我知道金是40nm左右...不是薄膜的，是块体材料的平均自由程，银比金导电率小，自由程也应该比金小才对啊？ 四探针测试仪测硅片电阻率测的是N型面的吗 测量金属电阻率是用分压法还是限流法还是不一定?请说明理由, 测金属导体材料电阻率时,电阻测量系统误差应为多少? 4探针测硅片电阻率一定要