平晶测量平面性是根据什么原理?

来源：学生作业帮助网 编辑：作业帮 时间：2024/10/06 22:04:47
平晶测量平面性是根据什么原理?
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平晶测量平面性是根据什么原理?
平晶测量平面性是根据什么原理?

平晶测量平面性是根据什么原理?
简单的说就是：光在平晶表面反射和被测表面反射回来的光线形成干涉现象.由于被测表面平面度的影响,干涉光线的光程差不同,因此形成干涉条纹.通过测量干涉条纹的弯曲量并计算可得被测样品的平面度.

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