用多晶XRD测试硅片上生长的纳米薄膜结构,为什么有的峰值测不到如果只测硅片的话,买的硅片是（100）的,结果只能测到（400）的峰,而且（100）和（400）两个面是不是平行的测薄膜的时候,比

来源：学生作业帮助网 编辑：作业帮 时间：2024/11/16 14:31:59
用多晶XRD测试硅片上生长的纳米薄膜结构,为什么有的峰值测不到如果只测硅片的话,买的硅片是（100）的,结果只能测到（400）的峰,而且（100）和（400）两个面是不是平行的测薄膜的时候,比
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用多晶XRD测试硅片上生长的纳米薄膜结构,为什么有的峰值测不到如果只测硅片的话,买的硅片是（100）的,结果只能测到（400）的峰,而且（100）和（400）两个面是不是平行的测薄膜的时候,比
用多晶XRD测试硅片上生长的纳米薄膜结构,为什么有的峰值测不到
如果只测硅片的话,买的硅片是（100）的,结果只能测到（400）的峰,而且（100）和（400）两个面是不是平行的
测薄膜的时候,比如硫化镉,立方结构的（111）和六角结构的（002）很接近,怎么判断是哪一个.

用多晶XRD测试硅片上生长的纳米薄膜结构,为什么有的峰值测不到如果只测硅片的话,买的硅片是（100）的,结果只能测到（400）的峰,而且（100）和（400）两个面是不是平行的测薄膜的时候,比
两个晶面当然是平行的,取向完全一致,所以硅片没问题.
后者要通过观察其它弱衍射峰来确定到底是六方还是立方.一般来说硫化镉六方多一点.

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